Model reduction of parasitic coupling networks of mixed‐signal VLSI circuits

نویسندگان
چکیده

برای دانلود باید عضویت طلایی داشته باشید

برای دانلود متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

Spice Compatible Model for Multiple Coupled Nonuniform Transmission Lines Application in Transient Analysis of VLSI Circuits

An SPICE compatible model for multiple coupled nonuniform lossless transmission lines (TL's) is presented. The method of the modeling is based on the steplines approximation of the nonuniform TLs and quasi-TEM assumptions. Using steplines approximation the system of coupled nonuniform TLs is subdivided into arbitrary large number of coupled uniform lines (steplines) with different characteristi...

متن کامل

Analysis and Reduction of Capacitive Coupling Noise in High-Speed VLSI Circuits

Scaling the minimum feature size of VLSI circuits to sub-quarter micron and its clock frequency to 2GHz has caused crosstalk noise to become a serious problem, that degrades the performance and reliability of high speed integrated circuits. This paper presents an efficient method for computing the capacitive crosstalk in sub-quarter micron VLSI circuits. In particular, we provide closed-form ex...

متن کامل

the effect of consciousness raising (c-r) on the reduction of translational errors: a case study

در دوره های آموزش ترجمه استادان بیشتر سعی دارند دانشجویان را با انواع متون آشنا سازند، درحالی که کمتر به خطاهای مکرر آنان در متن ترجمه شده می پردازند. اهمیت تحقیق حاضر مبنی بر ارتکاب مکرر خطاهای ترجمانی حتی بعد از گذراندن دوره های تخصصی ترجمه از سوی دانشجویان است. هدف از آن تاکید بر خطاهای رایج میان دانشجویان مترجمی و کاهش این خطاها با افزایش آگاهی و هوشیاری دانشجویان از بروز آنها است.از آنجا ک...

15 صفحه اول

A Digital Metastability Model for VLSI Circuits

PhD Thesis A Digital Metastability Model for VLSI Circuits PhD candidate Thomas Polzer Reviewers Ao. Univ.-Prof. Dipl.-Ing. Dr. techn. Andreas Steininger Prof. Alex Yakovlev, PhD, DSc This thesis develops a digital model for predicting failure rates caused by marginal triggering, so called metastability, of CMOS storage elements. To derive the underlying model, various storage elements are simu...

متن کامل

Analysis of Power Supply Networks in VLSI Circuits

Although the trend toward finer geometries and larger chips has produced faster systems, it has also created larger voltage drops and higher current densities in chip power supply networks. Excessive voltage drops in the power supply lines cause incorrect circuit operation, and high current densities lead to circuit failure via electromigration. Analyzing this power supply noise by hand for lar...

متن کامل

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: COMPEL - The international journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering

سال: 2011

ISSN: 0332-1649

DOI: 10.1108/03321641111133253